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红外线接收头二次过回流焊的后果

返回列表 来源: 浏览:- 发布日期:2025-06-03 19:33:56【

红外线接收头二次过回流焊的后果

红外线接收头二次过回流焊可能导致封装材料热损伤、焊接可靠性下降及性能偏移,需通过温度曲线优化、局部加热技术及材料适配等方法控制风险。

二次过回流焊的主要后果

1.热机械应力损伤。

红外接收头多为环氧树脂封装,二次高温(通常峰值温度>245)会导致封装材料玻璃化转变温度(Tg)附近的膨胀应力累积,可能引发内部晶圆裂纹或引脚脱层。

2.焊接可靠性下降。

焊点经历二次冶金过程会导致:

IMC (金属间化合物)过度生长(厚度>4μm时剪切强度下降超15%)

●锡须生成概率增加(尤其无铅焊料)

3.光电性能偏移。

红外滤光片受热形变可能改变透光波长,接收灵敏度下降实测可达10-20dBm

关键处理方法

1.温度曲线优化。

●峰值温度降低5-10(建议≤235)

●液相线以上时间(TAL)控制在30-60秒。

2.局部加热技术应用。

采用红外聚焦或热风喷嘴进行选择性回流,减少周边元件热冲击(推荐封装区域温升速率≤2/s)

3.材料适配改进。

●选用耐高温封装材料(Tg>170℃的黑色环氧树脂)

●焊盘采用OSP处理替代ENIG,减少IMC生长速率。

4.过程检测强化。二次回流后需进行:

X-Ray检测焊点孔隙率(标准<25%)

●红外光谱测试接收灵敏度衰减值。